GB/T 23842-2009
無機化学製品中のケイ素含有量を測定するための一般的な方法還元モリブデン酸ケイ素分光光度法 (英語版)

規格番号
GB/T 23842-2009
言語
中国語版, 英語で利用可能
制定年
2009
出版団体
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
最新版
GB/T 23842-2009
範囲
この規格は、無機化学製品中のケイ素含有量を測定するための一般的な方法、つまり還元アルミノケイ酸塩分光光度法を規定しています。 この規格は、無機化学製品中のシリコン含有量を測定するための一般的な方法に適用されます。 分析する製品の試験溶液の調製は、特定の製品規格を参照する必要があります。 試験溶液中の SiO2 の含有量範囲は 2μg ~ 200μg である必要があり、干渉限界は付録 C に示されています。

GB/T 23842-2009 規範的参照

  • GB/T 6682-2008 分析実験室用水の仕様と試験方法
  • HG/T 3696.2 無機化学製品 標準液の調製、化学分析用の調製と製品 第2部 不純物標準液の調製*2011-12-20 更新するには
  • HG/T 3696.3 無機化学製品 化学分析用標準液、製剤および製品の調製 第 3 部:製剤および製品の調製*2011-12-20 更新するには

GB/T 23842-2009 発売履歴

  • 2009 GB/T 23842-2009 無機化学製品中のケイ素含有量を測定するための一般的な方法還元モリブデン酸ケイ素分光光度法
無機化学製品中のケイ素含有量を測定するための一般的な方法還元モリブデン酸ケイ素分光光度法



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