DB35/T 110-2000
電子プローブおよび走査型電子顕微鏡 塗装痕跡検出のためのX線エネルギー分光分析法 (英語版)

規格番号

DB35/T 110-2000

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2000

出版団体

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China

最新版

DB35/T 110-2000

範囲

この規格は、電子プローブや走査型電子顕微鏡X線分光器を用いて塗料の物的証拠を分析するための方法原理、サンプルの調製、測定条件、測定手順、分析結果の判断などを規定しています。 この規格は、塗料の物理的証拠における顔料および充填剤の無機成分の比較分析に適用されます。

DB35/T 110-2000 発売履歴

• 2000 DB35/T 110-2000 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡 塗装痕跡検出のためのX線エネルギー分光分析法