GB/T 23414-2009
マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、用語 (英語版)

規格番号

GB/T 23414-2009

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2009

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 23414-2009

範囲

この規格は、走査型電子顕微鏡 (SEM) の実践で使用される用語を定義します。 一般的な用語とテクノロジーごとに分類された特定の概念の用語が含まれ、ISO 23833 ですでに定義されている用語も含まれます。 この規格は、SEM の実践に関連するすべての標準化された文書に適用されます。 さらに、この規格の用語の一部の定義は、関連分野の文書にも適用されます (例: 電子プローブ微量分析 (EPMA)、分析電子顕微鏡 (AEM)、エネルギー分光法 (EDX) など)。

GB/T 23414-2009 発売履歴

• 2009 GB/T 23414-2009 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、用語