GB/T 23413-2009
ナノ材料の粒径と微視的ひずみの測定 X 線回折線拡大法 (英語版)

規格番号

GB/T 23413-2009

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2009

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 23413-2009

範囲

この規格は、X 線回折線拡大法を使用してナノマテリアルの粒径と微視的ひずみを決定する方法を規定しています。 この規格で採用されている計算方法は近似関数法です。 この標準は、粒子サイズが通常 100 nm 以下で、微視的歪みが通常 0.1% 以下のナノ材料の測定に適用できます。

GB/T 23413-2009 発売履歴

• 2009 GB/T 23413-2009 ナノ材料の粒径と微視的ひずみの測定 X 線回折線拡大法