GB/T 19501-2004
電子後方散乱回折分析法の一般原則 (英語版)

規格番号
GB/T 19501-2004
言語
中国語版, 英語で利用可能
制定年
2004
出版団体
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
状態
 2014-03
に置き換えられる
GB/T 19501-2013
最新版
GB/T 19501-2013
範囲
この規格は後方散乱電子回折分析法を規定しています。 この規格は、後方散乱電子回折アクセサリを搭載した電子線マイクロアナライザーの相同定、結晶方位、微細構造および粒界特性の分析に適用されます。

GB/T 19501-2004 発売履歴

  • 2013 GB/T 19501-2013 マイクロビーム解析の一般原理 電子後方散乱回折解析法
  • 2004 GB/T 19501-2004 電子後方散乱回折分析法の一般原則
電子後方散乱回折分析法の一般原則



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