JIS C 2135:2004
乾燥した固体絶縁材料 高電圧および低電流アーク放電の減衰試験 試験方法

規格番号

JIS C 2135:2004

制定年

2004

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

状態

撤回

に置き換えられる

JIS C 2135:2011

最新版

JIS C 2135:2011

範囲

この規格は，絶縁材料の高電圧小電流アーク放電による破損，特に，材料表面近傍で引き起こされる損傷の耐久性を概略的に把握するための試験方法を規定する。アーク放電は，材料に対して局所的な熱又は化学反応による分解と侵食を引き起こし，材料の表面層に導電路を形成する。試験条件は段階的に順次過酷となるように設定されている。すなわち，初期の段階では小電流アークを断続し，その頻度を変えることによって，また後段では連続アークの電流を段階的に増大することによって過酷度を変える。実用上の観点から，試験は簡便であること，及び試験時間が短いことが要求される。したがって，この試験方法は，材料の配合の違いによる特性変化を検出する場合，材料の品質管理用試験など.材料の第一次選択だけに適している。この試験方法の従来の実施経験によれぱ，熱硬化性樹脂に対しては許容できる程度の再現性をもつ結果が得られている。一方，熱可塑性樹脂に関しては，複数の試験機関から，データに許容範囲を超える大きなぱらつきを生じることが報告され，この試験方法を熱可塑性樹脂に適用することは避けるべきであると指摘されている。備考1.熱可塑性樹脂に対するデータのばらつきを減らすために，電極の荷重及び電極が試験片内に沈み込む深さを制御する手段が種々試みられていろ。前述のような電極の制御機構がない場合には，この試験方法は多(の熱可塑性樹脂については有効な結果をもたらさない。2.この規格の対応国際規格を，次に示す。なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき， IDT(一致している)，MOD（修正している），NEQ(同等でない)とする。

JIS C 2135:2004 発売履歴

• 2011 JIS C 2135:2011 乾燥固体絶縁材料 高電圧および低電流アーク放電の減衰試験
• 2004 JIS C 2135:2004 乾燥した固体絶縁材料 高電圧および低電流アーク放電の減衰試験 試験方法