EN 62374:2007
半導体デバイス、ゲート絶縁膜の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) 試験

規格番号

EN 62374:2007

制定年

2007

出版団体

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

最新版

EN 62374:2007

EN 62374:2007 発売履歴

• 2007 EN 62374:2007 半導体デバイス、ゲート絶縁膜の時間依存性絶縁破壊 (TDDB) 試験