GB/T 15750-2008
圧電セラミックス材料の性能試験方法、経時変化特性試験 (英語版)

規格番号

GB/T 15750-2008

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2008

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 15750-2008

交換する

GB/T 15750-1995

範囲

この規格は、圧電セラミック材料の経時劣化および温度劣化性能の試験条件、試験方法、試験手順および計算方法を規定しています。 この規格は、圧電セラミック材料の老化および温度老化特性の試験に適用されます。

GB/T 15750-2008 規範的参照

• GB/T 11310 自由誘電率温度特性試験に対する圧電セラミックス材料の性能試験方法
• GB/T 2414.1 圧電セラミックス材料の性能試験方法 ディスク径方向伸縮振動モード
• GB/T 2414.2 圧電セラミックス材料の性能試験方法 薄片の横方向長さ伸縮振動モード
• GB/T 3389 圧電セラミックス材料の性能試験方法 性能パラメータ試験*， 2009-02-01 更新するには
• GB/T 3389.1 強電圧セラミックスの語彙
• GB/T 6427 圧電セラミック振動子の周波数および温度安定性試験方法

GB/T 15750-2008 発売履歴

• 2008 GB/T 15750-2008 圧電セラミックス材料の性能試験方法、経時変化特性試験
• 1995 GB/T 15750-1995 圧電セラミック材料の経年劣化性能の試験手順