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- ASTM E1036-08
- 規格番号
- ASTM E1036-08
- 制定年
- 2008
- 出版団体
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- 状態
- に置き換えられる
-
ASTM E1036-12
- 最新版
-
ASTM E1036-15(2019)
- 範囲
- これらの手順の目的は、太陽電池モジュールおよびアレイの電気的性能をテストおよび報告するための認知された方法を提供することです。
テスト結果は、単一ソースからのモジュールまたはアレイのグループをテストする際に発生する可能性のある、類似項目のグループ間での異なるモジュールまたはアレイの比較に使用できます。
また、異なるメーカーの製品など、さまざまなデザインを比較するために使用することもできます。
同じモジュールまたはアレイの繰り返しの測定は、デバイスのパフォーマンスの変化を研究するために使用できます。
測定は、さまざまなテスト条件にわたって実行できます。
測定データは、テスト条件から標準 RC、公称動作条件、またはオプションのユーザー指定のレポート条件に数値的に変換されます。
推奨される RC は表 1 で定義されています。
テスト条件が、デバイス温度が RC 温度の &#±2&#°C 以内であり、総放射照度が &#±5 以内である場合RC 放射照度の % である場合、数値変換は、IV 測定中の総放射照度に基づく測定されたデバイス電流の補正で構成されます。
5.3.1 の規定が満たされていない場合、RC での性能は、双一次補間法を使用して、目的の RC を囲む温度および放射照度条件での 4 つの個別の IV 測定から得られます。
温度と放射照度を分類するために使用できるさまざまな方法があります。
1 つの方法では、テスト対象のモジュールを基準温度以下に冷却し、モジュールがウォームアップするにつれて IV 特性の測定を繰り返します。
パルス光源の放射照度は、透過率を変化させた減光メッシュフィルターを使用して調整できます。
シミュレーターとテスト平面の間の距離を変更できる場合は、この調整を使用して放射照度を変更できます。
自然太陽光では、時間帯や太陽の入射角度によって放射照度が変化します。
これらのテスト方法は 2 つの要件に基づいています。
まず、基準セル (またはモジュール、1.1.1 および 4.3.4 を参照) が、そのスペクトル応答がテスト対象のモジュールまたはアレイに近いとみなされるように選択されます。
第 2 に、代表的な細胞のスペクトル応答と放射源のスペクトル分布を知る必要があります。
次に、基準セルの校正定数は、試験方法 E 973 で定義されているスペクトル不一致パラメータを使用して、実際のスペクトル放射照度分布と基準スペクトル放射照度分布の差を考慮して補正されます。
地上波基準セルは、基準スペクトルに対して校正されます。
4.3 で説明したように作成および校正された基準セルは、スペクトル応答が基準セルのスペクトル応答に近いモジュールまたはアレイに入射する総放射照度を示します。
これらの試験方法に従って決定された性能データを使用すると、任意の基準スペクトル放射照度分布に関して、任意の試験光源下での測定からモジュールまたはアレイの性能を予測することが可能になります。
測定された IV 曲線に「ねじれ」がある場合は、5.3.1 の基準条件を満たす必要があります。
または複数の変曲点。
表 1 レポート条件 総放射照度、Wm......
ASTM E1036-08 発売履歴