IEEE Std C37.26-2003
低圧インダクタンス試験回路の力率測定方法のご案内

規格番号

IEEE Std C37.26-2003

制定年

2003

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

IEEE Std C37.26-2014

最新版

IEEE Std C37.26-2014

範囲

誘導性低電圧 (1000 V 以下) テスト回路の力率の測定に使用される 3 つの方法について説明します。 これらの方法は、1) 無線方法、2) DC デクリメント方法、および 3) 位相関係方法です。

IEEE Std C37.26-2003 発売履歴

• 2014 IEEE Std C37.26-2014 低圧（AC1000V以下）インダクタンス試験回路の力率測定方法のご案内
• 2003 IEEE Std C37.26-2003 低圧インダクタンス試験回路の力率測定方法のご案内
• 1972 IEEE Std C37.26-1972 低圧インダクタンス試験回路の力率測定方法のご案内
• 1971 IEEE C37.26-1971 低電圧インダクタ試験回路の力率測定方法の標準ガイド