IEC 61298-4:2008
プロセス測定および制御装置 性能評価の一般的な方法と手順 パート 4: 評価レポートの内容

規格番号

IEC 61298-4:2008

制定年

2008

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

最新版

IEC 61298-4:2008

交換する

IEC 65B/688/FDIS:2008 IEC 61298-4:1995

範囲

IEC 61298 のこの部分では、テストを実施し、プロセス測定および制御デバイスの機能および性能特性を報告するための一般的な方法と手順を指定します。 このテストは、独自の特定の入力変数と出力変数、および入力と出力間の特定の関係 (伝達関数) によって特徴付けられるデバイスに適用でき、アナログ デバイスやデジタル デバイスも含まれます。 特別なテストを必要とするデバイスの場合は、この規格を、特別なテストを指定する製品固有の規格と一緒に使用する必要があります。 この規格は、プロセス測定または制御装置の評価または試験と、得られた結果についての報告書の内容を規定します。 評価報告書に記載すべき主な項目を定めていますが、その内容を具体的にどのような形式で記載すべきかについては定めていません。 （これは、レポートを作成および発行する試験機関の裁量に任されています。 ）

IEC 61298-4:2008 規範的参照

• IEC 60050 国際電気技術語彙 (IEV) - 索引

IEC 61298-4:2008 発売履歴

• 2008 IEC 61298-4:2008 プロセス測定および制御装置 性能評価の一般的な方法と手順 パート 4: 評価レポートの内容
• 1995 IEC 61298-4:1995 プロセス計測制御装置の性能評価の一般的な方法と手順 第4部：評価報告書の内容