IEC 61298-2:2008
プロセス測定および制御装置 性能評価の一般的な方法と手順 パート 2: 基準条件下でのテスト

規格番号

IEC 61298-2:2008

制定年

2008

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

最新版

IEC 61298-2:2008

交換する

IEC 65B/686/FDIS:2008 IEC 61298-2:1995

範囲

IEC 61298 のこの部分では、プロセス測定および制御デバイスの機能および性能特性に関するテストを実施し報告するための一般的な方法と手順を規定しています。 このテストは、独自の特定の入力変数と出力変数、および入力と出力間の特定の関係 (伝達関数) によって特徴付けられるデバイスに適用でき、アナログ デバイスやデジタル デバイスも含まれます。 特別なテストを必要とするデバイスの場合は、この規格を、特別なテストを指定する製品固有の規格と一緒に使用する必要があります。 この規格は、基準条件下で行われたテストを対象としています。

IEC 61298-2:2008 規範的参照

• IEC 61010-1 測定、制御、実験室で使用する電気機器の安全要件 パート 1: 一般要件*， 2017-01-01 更新するには
• IEC 61298-1 プロセス測定および制御装置 性能評価の一般的な方法と手順 パート 1: 一般的な考慮事項

IEC 61298-2:2008 発売履歴

• 2008 IEC 61298-2:2008 プロセス測定および制御装置 性能評価の一般的な方法と手順 パート 2: 基準条件下でのテスト
• 1995 IEC 61298-2:1995 プロセス測定および制御装置の性能評価のための一般的な方法と手順 パート 2: 基準条件下でのテスト