GB/T 16594-2008
走査型電子顕微鏡によるミクロンスケールの長さの測定方法に関する一般規則 (英語版)
- 規格番号
- GB/T 16594-2008
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 2008
- 出版団体
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- 最新版
- GB/T 16594-2008
- 交換する
- GB/T 16594-1996
- 範囲
- この規格は、走査型電子顕微鏡によるミクロンスケールの長さの測定に適用される原理を指定します。 (0.5～10)μmの長さの測定に適しています。
GB/T 16594-2008 規範的参照
- JJF 1001-1998 一般的な測定用語と定義
- JJF 1059-1999 測定の不確かさの評価と表現
- JJG 550-1988 走査型電子顕微鏡のパイロット校正手順
GB/T 16594-2008 発売履歴
- 2008 GB/T 16594-2008 走査型電子顕微鏡によるミクロンスケールの長さの測定方法に関する一般規則
- 1996 GB/T 16594-1996 走査型電子顕微鏡によるミクロンレベルの長さの測定方法
