GB/T 5170.9-2008
電気・電子製品の環境試験装置の検査方法 日射試験装置 (英語版)

規格番号

GB/T 5170.9-2008

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2008

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

状態

入れ替わる 2018-07

に置き換えられる

GB/T 5170.9-2017

最新版

GB/T 5170.9-2017

交換する

GB/T 5170.9-1996

範囲

GB/T 5170のこの部分は、日射試験装置の検査項目、主な機器と検査の要件、検査荷重、検査条件、検査方法、データ処理と検査結果、検査周期等を規定しています。 GB/T 2423.24「電気および電子製品の環境試験パート 2: 試験方法試験 Sa: 地上での日射量のシミュレーション」で使用される試験装置の検査/受入検査および定期検査。 このセクションは、同様の試験装置の検査にも適用されます。

GB/T 5170.9-2008 規範的参照

• GB/T 16839.1 熱電対パート 1: 起電力の仕様と許容差*， 2018-07-13 更新するには
• GB/T 2423.24 環境試験パート 2: 試験方法 試験 S: 地上での日射量のシミュレーションと日射量試験および気候老化試験のガイドライン*， 2022-07-11 更新するには
• GB/T 5170.1-2008 電気・電子製品の環境試験装置の検査方法 一般原則
• GB/T 5170.2 環境試験装置の検査方法その2：温度試験装置*， 2018-07-01 更新するには
• IEC 60751 工業用白金測温抵抗体および白金温度センサー*， 2022-01-27 更新するには

GB/T 5170.9-2008 発売履歴

• 2017 GB/T 5170.9-2017 環境試験装置の検査方法 第9回 日射試験装置
• 2008 GB/T 5170.9-2008 電気・電子製品の環境試験装置の検査方法 日射試験装置
• 1996 GB/T 5170.9-1996 電気・電子製品環境試験装置の基本パラメータの校正方法 日射試験装置

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