ASTM C1605-04
波長分散型蛍光X線分析法を用いた白色セラミック材料の化学分析の標準試験方法
- 規格番号
- ASTM C1605-04
- 制定年
- 2004
- 出版団体
- American Society for Testing and Materials (ASTM)
- 状態
- に置き換えられる
- ASTM C1605-04(2009)
- 最新版
- ASTM C1605-04(2014)
- 範囲
- 1.1 これらの試験方法は、波長分散型蛍光 X 線分光法を使用した、陶磁器の白器粘土および鉱物中の 10 個の主要元素 (SiO2、Al2O3、Fe2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O、TiO2、P 2O5、MnO、および LOI) の測定をカバーしています。 (WDXRF) まずサンプルを点火し、次に四ホウ酸リチウムで融解させ、得られたガラスディスクを波長分散型 X 線分光計に導入し、X 線管からの X 線をディスクに照射します。 サンプル中の元素から放出される物質が計数され、事前に準備された校正標準を使用して濃度が決定されます。 (1) 10 の主要な元素に加えて、この方法では重量測定による強熱減量が提供されます。 注 1 この試験方法のテキストの多くは由来しています。 参考文献 (1).1.2 に含まれる波長分散型蛍光 X 線分光法による主要元素分析から直接 WDXRF による分析による干渉は、鉱物学的またはその他の構造効果、線の重なり、およびマトリックス効果から生じる可能性があります。 鉱物学的であろうとなかろうと、適切なフラックスとの融合によって除去されます。 サンプルの融合によりマトリックス効果が減少し、分光計に提示するための安定した平坦な均質なサンプルが生成されます。 特定のタイプの結晶モノクロメータを選択すると、ラインの重なりや多次数ラインの干渉の多くが排除されます。 数学的補正手順 (2) は、吸収および増強マトリックス効果を補正するために使用されます。 1.3 粘土および鉱物中の元素の濃度は、酸化状態とは無関係に決定され、それらが最も一般的に発生する酸化状態で報告されます。 1.4 濃度範囲:1.5 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。
ASTM C1605-04 規範的参照
ASTM C1605-04 発売履歴
- 2014 ASTM C1605-04(2014) 波長分散型蛍光X線分析法を用いたセラミック白色材料の化学分析の標準試験方法
- 2004 ASTM C1605-04(2009) 波長分散型蛍光X線分析法を用いた白色セラミック材料の化学分析の標準試験方法
- 2004 ASTM C1605-04 波長分散型蛍光X線分析法を用いた白色セラミック材料の化学分析の標準試験方法
