ASTM E1855-04e1
2N2222A シリコン バイポーラ トランジスタを中性子スペクトル センサーおよび変位損傷モニターとして使用するための標準試験方法

規格番号
ASTM E1855-04e1
制定年
2004
出版団体
American Society for Testing and Materials (ASTM)
状態
に置き換えられる
ASTM E1855-05
最新版
ASTM E1855-20
範囲
1.1 この試験方法は、中性子エネルギースペクトルの決定における線量測定センサーとしての 2N2222A シリコン バイポーラ トランジスタの使用、およびシリコン 1-MeV 等価変位損傷フルエンス モニターとしての使用を対象としています。 1.2 中性子変位損傷は、この範囲のスペクトル センサーとして特に価値があります。 核分裂フォイルが利用できない場合は 0.1 ～ 2.0 MeV。 2 215 のフルエンス範囲で適用されています。 10 12 n/cm2 および 1 215; 1014 n/cm2 から 1015 n/cm2 まで有効です。 この試験方法では、中性子スペクトルを決定するためのシリコン 1-MeV 相当フルエンス情報の取得と使用 (放射化フォイル データの使用と同様の方法で) の手順を詳しく説明します。 1.3 さらに、このセンサーは、次の重要な確認を提供します。 1.4 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合でも、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制要件の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。

ASTM E1855-04e1 発売履歴

  • 2020 ASTM E1855-20 2N2222A シリコン バイポーラ トランジスタを中性子スペクトル センサーおよび変位損傷ディスプレイとして使用するための標準試験方法
  • 2015 ASTM E1855-15 2N2222A シリコン バイポーラ トランジスタを中性子スペクトル センサーおよび変位破壊モニターとして使用するための標準試験方法
  • 2010 ASTM E1855-10 2N2222A シリコン バイポーラ トランジスタを使用した中性子スペクトル センサーおよび変位損傷モニターの標準試験方法
  • 2005 ASTM E1855-05e1 2N2222A シリコン バイポーラ トランジスタを中性子スペクトル センサーおよび変位損傷モニターとして使用するための標準試験方法
  • 2005 ASTM E1855-05 2N2222A シリコン バイポーラ トランジスタを中性子スペクトル センサーおよび変位損傷モニターとして使用するための標準試験方法
  • 2004 ASTM E1855-04e1 2N2222A シリコン バイポーラ トランジスタを中性子スペクトル センサーおよび変位損傷モニターとして使用するための標準試験方法
  • 2004 ASTM E1855-04 2N2222A シリコン バイポーラ トランジスタを中性子スペクトル センサーおよび変位損傷モニターとして使用するための標準試験方法
  • 1996 ASTM E1855-96 2N2222A シリコン バイポーラ トランジスタを中性子スペクトル センサーおよび変位破壊モニターとして使用するための標準試験方法


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