ASTM E1250-88(2000)
シリコン電子デバイスの放射線強度試験用のコバルト 60 放射線源の低エネルギー ガンマ成分の評価に電離箱を使用するための標準試験方法

規格番号

ASTM E1250-88(2000)

制定年

1988

出版団体

American Society for Testing and Materials (ASTM)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

ASTM E1250-88(2005)

最新版

ASTM E1250-15(2020)

範囲

1.1 Co-60 照射器の光子エネルギー スペクトルの低エネルギー成分は、シリコン電子デバイスの耐放射線性試験における吸収線量増強効果につながります。 これらの低エネルギー部品は、特定の被試験装置における吸収線量の決定に誤差を引き起こす可能性があります。 この方法では、特殊な電離箱を使用して、そのような効果の相対的な重要性の性能指数を決定する手順を説明します。 また、このチャンバーを組み立てるための設計と手順も説明します。 1.2 この方法は、暴露率の範囲が 7 X 10 -6 ～ 3 X 10 -2 C kg -1 s -1 (約 100 R/h ～ 100 R/s) である Co-60 放射線場での測定に適用できます。 。 曝露率が 100 R/s を超える放射線場にこの方法を適用する際のガイダンスについては、付録 X1 を参照してください。 注 1 - 露出とその単位の定義については、用語 E170 を参照してください。 1.3 SI 単位で記載されている値は標準とみなします。 括弧内の値は情報提供のみを目的としています。 1.4 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。

ASTM E1250-88(2000) 発売履歴

• 2020 ASTM E1250-15(2020) 電子部品アプリケーションの評価のためのシリコン電子デバイスの放射線耐性試験に使用されるコバルト 60 タイプのラジエーターの低エネルギー ガンマ元素の標準試験方法
• 2015 ASTM E1250-15 シリコン電子デバイスの放射線強度試験用のコバルト 60 放射線源の低エネルギー ガンマ成分を評価するための電離箱アプリケーションの標準試験方法
• 2010 ASTM E1250-10 電子部品アプリケーションの評価のためのシリコン電子デバイスの放射線耐性試験に使用されるコバルト 60 タイプのラジエーターの低エネルギー ガンマ元素の標準試験方法
• 1988 ASTM E1250-88(2005) シリコン電子デバイスの放射線強度試験用のコバルト 60 放射線源の低エネルギー ガンマ成分の評価に電離箱を使用するための標準試験方法
• 1988 ASTM E1250-88(2000) シリコン電子デバイスの放射線強度試験用のコバルト 60 放射線源の低エネルギー ガンマ成分の評価に電離箱を使用するための標準試験方法