ASTM F448-99
定常状態の生の光電流を測定するための標準的な試験方法

規格番号

ASTM F448-99

制定年

1999

出版団体

American Society for Testing and Materials (ASTM)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

ASTM F448-99(2005)

最新版

ASTM F448-18

範囲

1.1 この試験方法は、半導体デバイスが電離放射線に曝露されたときに半導体デバイスで生成される定常状態の一次光電流 Ipp の測定を対象としています。 これらの手順は、測定対象のデバイスの緩和時間がイオン化源のパルス幅の 25% 未満である場合に、10-9 As/Gy(Si または Ge) を超える光電流の測定を目的としています。 108Gy(Si または Ge)/s ものイオン化線量率に対するこれらの手順の有効性が確立されています。 この手順は、1010Gy(Si または Ge)/s もの線量率での測定に使用できます。 ただし、特に注意が必要です。 108Gy/s を超えると、パッケージ応答が相補型金属酸化膜半導体 (CMOS)/シリコン オン サファイア (SOS) などのテクノロジーのデバイス応答を支配する可能性があります。 10-9 As/Gy(Si または Ge) 以下の光電流を測定する場合には、追加の予防措置も必要です。 1.2 このテスト方法には、セットアップ、校正、およびテスト回路の評価手順も含まれています。 1.3 装置のタイプ間およびさまざまな用途の要件にはばらつきがあるため、特定の試験が実施される線量率範囲はこの試験方法では示されておらず、別途指定する必要があります。 1.4 国際単位系 (SI) に記載されている値は標準とみなされます。 この規格には他の測定単位は含まれません。 1.5 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。

ASTM F448-99 発売履歴

• 2018 ASTM F448-18 定常状態の一次光電流を測定するための標準的な試験方法
• 2011 ASTM F448-11 定常状態の一次光電流を測定するための標準的な試験方法
• 1999 ASTM F448-99(2005) 定常状態の生の光電流を測定するための標準的な試験方法
• 1999 ASTM F448-99 定常状態の生の光電流を測定するための標準的な試験方法