ASTM E1735-95(2000)e1 ～ 25 MeV の工業用放射線画像処理システムの相対的な画質応答を決定するための標準的な手法規格と仕様

範囲: 1.1 この試験方法は、4 ～ 25 MV の光子エネルギーを持つ X 線源に曝露されたときの工業用放射線写真フィルムの相対的な画質応答の測定を対象としています。フィルムの評価は、特別な画質インジケーター (IQI) の穴の視認性に基づいています。特定の種類のフィルムの結果は、使用する特定の処理システムに応じて異なる場合があるため、露光パラメータ、処理化学薬品、および処理サイクルを明記することが重要です。このテスト方法では、X 線システムのすべてのコンポーネントが適切に動作し、所定の画質を生成できることが前提となっています。この試験方法は、コバルト 60 線源または 4 MV 未満の X 線源で露光されたフィルムに使用することを目的としていません。 1.2 SI またはインチポンド単位で記載された値は標準とみなされます。括弧内の値は情報提供のみを目的としています。 1.3 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。

ASTM E1735-95(2000)e1 発売履歴

2019 ASTM E1735-19 ～ 25 MeV の工業用放射線画像処理システムの相対的な画質応答を決定するための標準的な手法
2007 ASTM E1735-07(2014) MeV ～ 25 MeV の X 線放射線に曝露された工業用放射線写真フィルムの相対的な画質を決定するための標準試験方法
2007 ASTM E1735-07 ～ 25 MeV の X 線に曝露された工業用放射線写真フィルムの相対的な画質を決定するための標準試験方法
1995 ASTM E1735-95(2000)e1 ～ 25 MeV の工業用放射線画像処理システムの相対的な画質応答を決定するための標準的な手法