ASTM E668-00
熱発光線量測定 (TLD) を使用した電子機器の放射線障害試験における吸収線量を決定するための標準的な手法

規格番号

ASTM E668-00

制定年

2000

出版団体

American Society for Testing and Materials (ASTM)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

ASTM E668-05

最新版

ASTM E668-20

範囲

1.1 この実践では、電離放射線によって照射された物質の吸収線量を測定するための熱ルミネッセンス線量計 (TLD) の使用手順を取り上げます。 手順の一部の要素はより広範囲に応用できますが、特に関心のある分野は電子機器の耐放射線性試験です。 この手法は、12 ～ 60 MeV のエネルギーのガンマ線、X 線、および電子によって照射された材料の吸収線量の測定に適用できます。 具体的なエネルギー制限については、手順の具体的な用途を説明する適切なセクションで説明します。 カバーされる吸収線量の範囲は約 10 -2 ～ 104 Gy (1 ～ 106 rad)、吸収線量率の範囲は約 10 -2 ～ 10 10 Gy/s (1 ～ 10 12 rad/s) です。 。 中性子照射を受けた材料の吸収線量および吸収線量率の測定は、この実務ではカバーされません。 さらに、これらの手順のうち電子照射を扱う部分は、主に部品のテストでの使用を目的としています。 電子基板やボックスなどのより大規模なコンポーネントの一部としてのデバイスのテストには、この実践の範囲外のテクニックが必要になる場合があります。 注 1 - 電子照射のエネルギーの上限と下限の目的は、線量測定が簡素化される限定的なケースに近づくことです。 具体的には、指定された線量測定方法では、次の 3 つの制限条件に近づく必要があります: (a) 一次電子のエネルギー損失が小さい、(b) 二次電子の大部分が線量計内で停止している、および (c) 一次電子によって生成される制動放射電子が大幅に失われます。 1.2 この規格は、その使用に関連する安全上の問題がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。

ASTM E668-00 発売履歴

• 2020 ASTM E668-20 電子デバイスの耐放射線性試験における吸収線量を決定するための熱ルミネッセンス線量測定 (TLD) システムの標準的な手法
• 2013 ASTM E668-13 電子機器の放射線硬化試験における吸収線量を測定するための熱ルミネッセンス線量測定 (TLD) システムの応用に関する標準的な手法
• 2010 ASTM E668-10 放射線耐性試験中に電子機器の吸収線量を決定するための熱ルミネッセンス線量測定 (TLD) の標準的な手法
• 2005 ASTM E668-05 電子デバイスの放射線硬化試験における吸収線量を測定するための熱ルミネッセンス線量測定 (TLD) システムの応用に関する標準的な手法
• 2000 ASTM E668-00 熱発光線量測定 (TLD) を使用した電子機器の放射線障害試験における吸収線量を決定するための標準的な手法