ASTM C1282-08
遠心光電子沈降法によるアドバンストセラミックスの粒度分布の標準試験法

規格番号
ASTM C1282-08
制定年
2008
出版団体
American Society for Testing and Materials (ASTM)
状態
 2014-01
最新版
ASTM C1282-08
範囲
先進的なセラミック粉末の製造業者およびユーザーは、この試験方法が製品仕様、品質管理、および研究開発のためにこれらの材料の粒度分布を決定するのに役立つことがわかります。 1.1 この試験方法は、0.1 ~ 20μm の範囲で、中央粒径 0.5 ~ 5.0μm の高度なセラミック粉末、特に窒化ケイ素および炭化物の粒度分布の測定を対象としています。 ;m。 1.2 この試験方法で説明した手順は、適切な分散手順が開発されていれば、この一般的なサイズ範囲の他のセラミック粉末にもうまく適用できます。 この試験方法が他の材料に適用できるかどうかを判断するのはユーザーの責任です。 1.3 SI 単位で記載されている値は標準とみなします。 括弧内の値は情報提供のみを目的としています。 1.4 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。

ASTM C1282-08 規範的参照

  • ASTM C242 陶器製衛生陶器および関連製品の標準用語

ASTM C1282-08 発売履歴

  • 2008 ASTM C1282-08 遠心光電子沈降法によるアドバンストセラミックスの粒度分布の標準試験法
  • 2000 ASTM C1282-00(2006) 遠心光電子沈降法によるアドバンストセラミックスの粒度分布の標準試験法
  • 2000 ASTM C1282-00 遠心光電子沈降法によるアドバンストセラミックスの粒度分布の標準試験法
  • 1994 ASTM C1282-94 遠心光電子沈降法によるアドバンストセラミックスの粒度分布の標準試験法
遠心光電子沈降法によるアドバンストセラミックスの粒度分布の標準試験法



© 著作権 2024