ASTM F1809-97
シリコンの構造欠陥を引き起こすエッチング溶液の選択と使用に関する標準ガイド

規格番号
ASTM F1809-97
制定年
1997
出版団体
American Society for Testing and Materials (ASTM)
状態
に置き換えられる
ASTM F1809-02
最新版
ASTM F1809-02
範囲
1.1 このガイドでは、シリコン ウェーハの構造欠陥を明らかにするために開発された化学溶液の配合、選択、および使用について説明します。 エッチング溶液は、シリコンデバイスの回路性能や歩留まりに悪影響を与える結晶欠陥を特定します。 サンプルの準備、温度制御、エッチング技術、エッチング液の選択はすべて、エッチング方法をうまく使用するための重要な要素です。 このガイドでは、いくつかのエッチング ソリューションに関する情報が提供され、ユーザーが必要に応じて選択できるようになります。 詳細については、付録 X1 および図を参照してください。 1-32。 シリコンウェーハの優先的にエッチングまたは装飾された表面欠陥をカウントするための試験方法については、試験方法 F 1810 を参照してください。 1.2 この規格は、その使用に関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的とするものではありません。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。

ASTM F1809-97 規範的参照

  • ASTM D5127 電子・半導体産業用超純水の規格ガイド*1999-04-09 更新するには
  • ASTM F1725 シリコンインゴットの結晶学的完全性分析のための標準ガイド
  • ASTM F1726 シリコンウェーハの結晶学的完全性分析に関する標準ガイドライン
  • ASTM F1727 研磨されたシリコンウェーハの酸化誘発欠陥を検出するための標準的な手法
  • ASTM F1810 

ASTM F1809-97 発売履歴

  • 1970 ASTM F1809-02
  • 1997 ASTM F1809-97 シリコンの構造欠陥を引き起こすエッチング溶液の選択と使用に関する標準ガイド
シリコンの構造欠陥を引き起こすエッチング溶液の選択と使用に関する標準ガイド



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