ASTM E1951-02(2007)
光学顕微鏡の目盛と倍率を校正するための標準ガイド

規格番号

ASTM E1951-02(2007)

制定年

2002

出版団体

American Society for Testing and Materials (ASTM)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

ASTM E1951-14

最新版

ASTM E1951-14(2019)

範囲

これらの方法は、光学顕微鏡の接眼レンズを通して見たときの倍率を決定するために使用できます。 これらの方法は、写真、ビデオ システム、および投影ステーションの顕微鏡倍率を校正するために使用できます。 レチクルは、独立した製品として、または顕微鏡システムのコンポーネントとして校正できます。 1.1 このガイドでは、顕微鏡倍率、写真倍率、ビデオ モニター倍率、粒径比較レチクル、およびその他の測定レチクルの計算および校正方法について説明します。 反射光学顕微鏡は、材料の微細構造を特徴付けるために使用されます。 材料工学における多くの決定は、微細構造の定性的および定量的分析に基づいている場合があります。 顕微鏡の倍率とレチクルの寸法が正確であることが不可欠です。 1.2 これらの方法を使用したキャリブレーションの精度は、使用する測定装置と同程度です。 校正に使用されるステージ マイクロメータまたはスケールは、国立標準技術研究所 (NIST) または同様の組織に追跡できる必要があることが推奨されます。 1.3 この規格は、関連する安全上の懸念がある場合、そのすべてに対処することを目的としたものではありません。 その使用法とともに。 適切な安全衛生慣行を確立し、使用前に規制上の制限の適用可能性を判断することは、この規格のユーザーの責任です。

ASTM E1951-02(2007) 発売履歴

• 2019 ASTM E1951-14(2019) レチクルと光学顕微鏡の倍率を校正するための標準ガイド
• 2014 ASTM E1951-14 光学顕微鏡の目盛と倍率を校正するための標準ガイド
• 2002 ASTM E1951-02(2007) 光学顕微鏡の目盛と倍率を校正するための標準ガイド
• 2002 ASTM E1951-02 レチクルと光学顕微鏡の倍率を校正するための標準ガイド
• 2001 ASTM E1951-01 レチクルと光学顕微鏡の倍率を校正するための標準ガイド
• 2001 ASTM E1951-98 レチクルと光学顕微鏡の倍率を校正するための標準ガイド