ISO 18756:2003
ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、アドバンスト工業用セラミックス） 曲げ時の表面割れ（SCF）法によるセラミックバルクの室温における破壊靱性の測定

規格番号

ISO 18756:2003

制定年

2003

出版団体

International Organization for Standardization (ISO)

最新版

ISO 18756:2003

範囲

この国際規格には、曲げにおける表面亀裂 (SCF) 法による、室温でのモノリシック セラミック材料の破壊靱性の測定を対象とする試験方法が記載されています。 この国際規格は、肉眼的に均質であるとみなされるモノリシックセラミックスおよびウィスカーまたは粒子で強化されたセラミックスでの使用を目的としています。 連続繊維強化セラミック複合材は含まれません。 この試験方法は、亀裂成長抵抗曲線が平坦または上昇している材料に適用できます。 この方法は ISO 15732 に似ていますが、事前亀裂がより小さく、異なる手順で作成される点が異なります。 この方法では、平らな R カーブを持つ材料に対して同様または同一の結果が得られます。 注記 この試験方法は通常、破壊靱性が約 10 MPa・m 未満のセラミック材料に適用されます。 破壊靱性が高い材料や、一部のジルコニアなどの柔らかい（硬度が低い）材料、または多孔質セラミックの場合、ヌープ圧子で事前亀裂を形成するのは難しい場合があります。

ISO 18756:2003 規範的参照

• ISO 14704:2000 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、ハイテクセラミックス） バルクセラミックスの室温における曲げ強さの試験方法
• ISO 3611:1978 外径マイクロメーター

ISO 18756:2003 発売履歴

• 2003 ISO 18756:2003 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、アドバンスト工業用セラミックス） 曲げ時の表面割れ（SCF）法によるセラミックバルクの室温における破壊靱性の測定