DIN 51096:2008
セラミック原料および基礎材料の試験、誘導結合プラズマ発光分析法 (ICP OES) および電熱蒸留器 (ETV) を使用した、炭化ケイ素の粉末および顆粒中の不純物の質量分率の直接測定
- 規格番号
- DIN 51096:2008
- 制定年
- 2008
- 出版団体
- German Institute for Standardization
- 状態
- に置き換えられる
- DIN EN 15991:2011
- 最新版
- DIN EN 15991:2016
DIN 51096:2008 発売履歴
- 2016 DIN EN 15991:2016 セラミック原料および基礎材料の試験 電熱蒸着 (ETV) 誘導結合プラズマ発光分析 (ICP-OES) による炭化ケイ素の粉末および顆粒中の不純物の質量分率の直接測定、ドイツ語版 EN 15991-2015
- 2011 DIN EN 15991:2011 セラミック原料および基礎材料の試験 電熱蒸着 (ETV) 誘導結合プラズマ発光分析 (ICP-OES) による炭化ケイ素の粉末および顆粒中の不純物の質量分率の直接測定、ドイツ語版
- 2008 DIN 51096:2008 セラミック原料および基礎材料の試験、誘導結合プラズマ発光分析法 (ICP OES) および電熱蒸留器 (ETV) を使用した、炭化ケイ素の粉末および顆粒中の不純物の質量分率の直接測定
