IEC 60749-11:2002/COR2:2003
半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 第 11 部 急激な温度変化 二液電気めっき浴法

規格番号

IEC 60749-11:2002/COR2:2003

制定年

2003

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

最新版

IEC 60749-11:2002/COR2:2003

範囲

この規格は、「半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - パート 11: 温度の急速な変化」です。 二液浴法。 訂正事項２．

IEC 60749-11:2002/COR2:2003 発売履歴

• 2003 IEC 60749-11:2002/COR2:2003 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 第 11 部 急激な温度変化 二液電気めっき浴法
• 2003 IEC 60749-11:2002/COR1:2003 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 第 11 部 急激な温度変化 二液電気めっき浴法
• 2002 IEC 60749-11:2002 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 第 11 部 急激な温度変化 二液電気めっき浴法