IEC 60749-13:2002/COR1:2003
半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 13: 塩分環境
- 規格番号
- IEC 60749-13:2002/COR1:2003
- 制定年
- 2003
- 出版団体
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- 状態
- 2018-02
- に置き換えられる
- IEC 60749-13:2018
- 最新版
- IEC 60749-13:2018
- 範囲
- これは、IEC 60749-13-2002 の技術訂正事項 1 (半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - パート 13: 塩分雰囲気) です。
IEC 60749-13:2002/COR1:2003 発売履歴
- 2018 IEC 60749-13:2018 半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - パート 13: 塩分雰囲気
- 2003 IEC 60749-13:2002/COR1:2003 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 13: 塩分環境
- 2002 IEC 60749-13:2002 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 13: 塩分環境
