IEC 60749-12:2002/COR1:2003
半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 12: 振動、可変周波数

規格番号

IEC 60749-12:2002/COR1:2003

制定年

2003

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

状態

入れ替わる 2017-12

に置き換えられる

IEC 60749-12:2017

最新版

IEC 60749-12:2017

範囲

これは、IEC 60749-12-2002 の技術訂正事項 1 (半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - パート 12: 振動、可変周波数) です。

IEC 60749-12:2002/COR1:2003 発売履歴

• 2017 IEC 60749-12:2017 半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - 第 12 部: 振動周波数の変換
• 2003 IEC 60749-12:2002/COR1:2003 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 12: 振動、可変周波数
• 2002 IEC 60749-12:2002 半導体デバイス 機械的および気候的試験方法 パート 12: 振動、可変周波数