ISO 15732:2003
ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、先端産業用セラミックス) 室温における片面プレスプリットビーム(SEPB)法によるバルクセラミックスの破壊靱性測定試験方法

規格番号
ISO 15732:2003
制定年
2003
出版団体
International Organization for Standardization (ISO)
最新版
ISO 15732:2003
範囲
この国際規格には、シングルエッジプレクラックビーム (SEPB) 法による室温でのモノリシックセラミック材料の破壊靱性を測定するための試験方法が記載されています。 この国際規格は、肉眼的に均質であるとみなされるモノリシックセラミックスおよびウィスカーまたは粒子で強化されたセラミックスでの使用を目的としています。 連続繊維強化セラミック複合材料は含まれません。 この国際規格は、材料開発、材料比較、品質保証、特性評価、信頼性および設計データ生成を目的としています。 他の試験方法で決定された破壊靱性値は、この国際規格で定義されている KIpb と置き換えることはできず、また相互に置き換えることもできない場合があります。 この国際規格で表現される値は、国際単位系 (SI) に従っています。

ISO 15732:2003 規範的参照

  • ISO 1101:1983 技術図面 幾何公差 形状、方向、位置、および振れ公差図面の概要、定義、記号および表現
  • ISO 3312:1987 焼結金属材料および超硬合金の弾性率の測定
  • ISO 4287:1997 製品の幾何学的仕様 (GPS) 表面構造: プロファイル法表面構造の用語、定義、パラメーター (2 か国語による)
  • ISO 6507-1:1997 金属材料のビッカース硬さ試験 その1:試験方法

ISO 15732:2003 発売履歴

  • 2003 ISO 15732:2003 ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、先端産業用セラミックス) 室温における片面プレスプリットビーム(SEPB)法によるバルクセラミックスの破壊靱性測定試験方法
ファインセラミックス(アドバンストセラミックス、先端産業用セラミックス) 室温における片面プレスプリットビーム(SEPB)法によるバルクセラミックスの破壊靱性測定試験方法



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