JIS C 3660-1-4:2003
電気および光ケーブルの絶縁および外装材料の一般的な試験方法 パート 1-4: 一般的な適用方法 低温試験

規格番号

JIS C 3660-1-4:2003

制定年

2003

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

最新版

JIS C 3660-1-4:2003

交換する

JIS C 3660-1-4:1998

範囲

この規格は，配電用，通信用及び海上設備用の電気・光ケープルなどの，絶縁体及びシース材料の試験方法について規定する。この規格では，一般的な絶縁体及びシース用に適用するビニル及びポリエチレンコンパウンドの低温試験について規定する。備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき， IDT(一致している)，MOD（修正している），NEQ(同等でない)とする。

JIS C 3660-1-4:2003 発売履歴

• 2003 JIS C 3660-1-4:2003 電気および光ケーブルの絶縁および外装材料の一般的な試験方法 パート 1-4: 一般的な適用方法 低温試験
• 1998 JIS C 3660-1-4:1998 ケーブルの絶縁および外装材の一般的な試験方法 パート 1: 一般的な適用方法 セクション 4: 低温試験