TS 2553-1977
半導体デバイスの基本的な定格や特性、測定方法の一般原則など。 パート 3: ベンチマーク測定方法

規格番号

TS 2553-1977

制定年

1977

出版団体

TR-TSE

最新版

TS 2553-1977

TS 2553-1977 発売履歴

• 1977 TS 2553-1977 半導体デバイスの基本的な定格や特性、測定方法の一般原則など。 パート 3: ベンチマーク測定方法