KS C 6045-1986
半導体整流ダイオードの試験方法

規格番号

KS C 6045-1986

制定年

1986

出版団体

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

状態

撤回

に置き換えられる

KS C 6045-1991(2001)

最新版

KS C 6045-2002

KS C 6045-1986 発売履歴

• 2002 KS C 6045-2002 半導体整流ダイオードのテスト方法
• 0000 KS C 6045-1991(2001)
• 1986 KS C 6045-1986 半導体整流ダイオードの試験方法