IS 12737-1988
半導体X線エネルギー分光計の標準試験手順

規格番号

IS 12737-1988

制定年

1990

出版団体

IN-BIS

最新版

IS 12737-1988

範囲

この規格は、半導体 X 線エネルギー分光計の標準的なテスト手順を示しています。 このようなシステムは、半導体放射線検出器アセンブリと、波高分析器/コンピューターに接続された信号処理電子機器で構成されています。 波高分析装置およびコンピュータのテスト手順は、この規格ではカバーされていません。 第 5 条は基本的にチュートリアルです。

IS 12737-1988 発売履歴

• 1990 IS 12737-1988 半導体X線エネルギー分光計の標準試験手順