IS 9807-1981
デジタルマイクロ回路寿命テスト

規格番号

IS 9807-1981

制定年

1981

出版団体

IN-BIS

最新版

IS 9807-1981

範囲

この規格は、次の目的に適用されるデジタル超小型回路 (バイポーラ、MOS、およびマルチチップ回路) の寿命試験手順を扱います: a) 型式承認または型式試験、b) 受け入れ試験、および c) 信頼性評価。

IS 9807-1981 発売履歴

• 1981 IS 9807-1981 デジタルマイクロ回路寿命テスト