IS 4400 Pt.1-1967
半導体デバイスの測定法 第Ⅰ部 一般原則

規格番号

IS 4400 Pt.1-1967

制定年

1968

出版団体

IN-BIS

最新版

IS 4400 Pt.1-1967

範囲

この規格 (パート I) は、あらゆる種類の半導体デバイスの測定に関する一般条件をカバーしています。

IS 4400 Pt.1-1967 発売履歴

• 1968 IS 4400 Pt.1-1967 半導体デバイスの測定法 第Ⅰ部 一般原則