IS 10236 Pt.3-1982
光学機器の基本的な気候および耐久性試験手順 パート III 低温試験

規格番号

IS 10236 Pt.3-1982

制定年

1982

出版団体

IN-BIS

最新版

IS 10236 Pt.3-1982

範囲

1.1 この規格 (パート III) は、光学機器の低温テストを実施する手順を規定しています。

IS 10236 Pt.3-1982 発売履歴

• 1982 IS 10236 Pt.3-1982 光学機器の基本的な気候および耐久性試験手順 パート III 低温試験