IS 4400 Pt.3-1968
半導体デバイスの測定方法 第Ⅲ部 整流ダイオード

規格番号

IS 4400 Pt.3-1968

制定年

1968

出版団体

IN-BIS

最新版

IS 4400 Pt.3-1968

範囲

この規格 (パート III) は、IS : 3700 (パート III)-1967〓 でカバーされる半導体整流ダイオードの特性の測定方法をカバーしています。

IS 4400 Pt.3-1968 発売履歴

• 1968 IS 4400 Pt.3-1968 半導体デバイスの測定方法 第Ⅲ部 整流ダイオード