IS 12860-1989
蛍光X線法による金属皮膜の厚さの測定

規格番号

IS 12860-1989

制定年

1990

出版団体

IN-BIS

最新版

IS 12860-1989

範囲

1.1 この方法では、金属コーティングの厚さを測定するための蛍光 X 線 (XRF) 技術の使用について説明します。 この技術は、移動しているサンプルだけでなく静止しているサンプルにも適用できます。 1.2 この規格は、単位面積あたりのコーティングの質量およびコーティングの厚さの決定に適用されます。 ここで説明する一般原則は、金属または非金属を問わず、あらゆる基材上のほとんどの金属コーティングの厚さの決定に適用できます。 所定のコーティングの測定可能な最大厚さは、それを超えると、厚さの増加に伴って特性二次 X 線の強度が大幅に変化しなくなる厚さです。

IS 12860-1989 発売履歴

• 1990 IS 12860-1989 蛍光X線法による金属皮膜の厚さの測定