IS 7412-1974
半導体デバイスの寿命試験

規格番号

IS 7412-1974

制定年

1975

出版団体

IN-BIS

最新版

IS 7412-1974

範囲

この規格は、次の目的に適用される半導体デバイスの寿命試験手順を扱います: a) 型式承認または型式試験、b) 受け入れ試験、および c) 信頼性評価。

IS 7412-1974 発売履歴

• 1975 IS 7412-1974 半導体デバイスの寿命試験