BS ISO 9455-17:2003
ろう付け用フラックス 試験方法 表面絶縁抵抗コーム試験およびろう付け用フラックス残留物の電気化学的移行試験

規格番号

BS ISO 9455-17:2003

制定年

2003

出版団体

British Standards Institution (BSI)

最新版

BS ISO 9455-17:2003

範囲

ISO 9455 のこの部分では、はんだ付けまたは錫めっきテストクーポン後のフラックス残留物から生じる可能性のある有害な影響をテストする方法を指定しています。 この試験は、ISO 9454-1 で指定されているタイプ 1 およびタイプ 2 のフラックス、固体または液体の形態、またはやに入りはんだ線、はんだプリフォーム、共晶または近共晶錫で構成されるはんだペーストの形態に適用できます。 /鉛 (Sn/Pb) はんだ (ISO 9453:1990、クラス E)。 注 この試験方法は、鉛フリーはんだで使用するフラックスにも適用できます。 ただし、はんだ付け温度はテスターとお客様の合意により調整することができます。

BS ISO 9455-17:2003 発売履歴

• 2003 BS ISO 9455-17:2003 ろう付け用フラックス 試験方法 表面絶縁抵抗コーム試験およびろう付け用フラックス残留物の電気化学的移行試験