JIS B 7440-4:2003
幾何製品仕様 (GPS) 座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再検証テスト パート 4: スキャン測定モード用の座標測定機

規格番号

JIS B 7440-4:2003

制定年

2003

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

最新版

JIS B 7440-4:2003

範囲

この規格は，スキャニング測定機能をもつ座標測定機の性能が，製造業者の仕様に適合しているかどうかを検証する受入検査及び使用者がスキャニング測定機能をもつ座標測定機の性能を定期的に検証するための定期検査について規定する。

JIS B 7440-4:2003 発売履歴

• 2003 JIS B 7440-4:2003 幾何製品仕様 (GPS) 座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再検証テスト パート 4: スキャン測定モード用の座標測定機