BS DD ISO/TS 13762:2002
粒子径分析 小角X線散乱法

規格番号

BS DD ISO/TS 13762:2002

制定年

2002

出版団体

British Standards Institution (BSI)

最新版

BS DD ISO/TS 13762:2002

範囲

この技術仕様書は、小角X線散乱法により超微粉末の粒度分布を測定する方法を規定するものである。 1nmから300nmまでの粒径に対応可能です。 データ解析では、粒子は等方性で球形であると仮定します。 この技術仕様に記載されている方法は、粒子懸濁液にも適用できます。 この技術仕様は、以下には適用されません。 a) 特別な合意がある場合を除き、その形態が球形から程遠い粒子を含む粉末。 b) 多孔質粒子からなる粉末。 c) 粉末の混合物。

BS DD ISO/TS 13762:2002 発売履歴

• 2002 BS DD ISO/TS 13762:2002 粒子径分析 小角X線散乱法