ISO 9455-17:2002
はんだ付けフラックス 試験方法 パート 17: 表面絶縁抵抗コーム試験およびはんだ付けフラックス残留物の電気化学的移行試験
- 規格番号
- ISO 9455-17:2002
- 制定年
- 2002
- 出版団体
- International Organization for Standardization (ISO)
- 状態
- に置き換えられる
- ISO 9455-17:2023
- 最新版
- ISO 9455-17:2024
- 範囲
- ISO 9455 のこの部分では、はんだ付けまたは錫めっきテストクーポン後のフラックス残留物から生じる可能性のある有害な影響をテストする方法を指定しています。 この試験は、ISO 9454-1 で指定されているタイプ 1 およびタイプ 2 のフラックス、固体または液体の形態、またはやに入りはんだ線、はんだプリフォーム、共晶または近共晶錫で構成されるはんだペーストの形態に適用できます。 /鉛 (Sn/Pb) はんだ (ISO 9453:1990、クラス E)。 注 この試験方法は、鉛フリーはんだで使用するフラックスにも適用できます。 ただし、はんだ付け温度はテスターとお客様の合意により調整することができます。
ISO 9455-17:2002 発売履歴
- 2024 ISO 9455-17:2024 ソフトフラックス試験方法 第17部 表面絶縁抵抗コーム試験及びフラックス残留電気化学的移行試験
- 2023 ISO 9455-17:2023 柔らかいはんだ
- 2002 ISO 9455-17:2002 はんだ付けフラックス 試験方法 パート 17: 表面絶縁抵抗コーム試験およびはんだ付けフラックス残留物の電気化学的移行試験
