IEC 60947-5-4:2002
低圧開閉装置および制御装置 第 5-4 部：制御回路装置およびスイッチング素子 低エネルギー接点の性能評価方法 特殊試験
- 規格番号
- IEC 60947-5-4:2002
- 制定年
- 2002
- 出版団体
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- 状態
- に置き換えられる
- IEC 60947-5-4:2002/AMD1:2019
- 最新版
- IEC 60947-5-4:2002/AMD1:2019
- 交換する
- IEC 17B/1228/FDIS:2002 IEC/TR2 60947-5-4:1996
- 範囲
- IEC 60947 のこの部分は、制御回路用のスイッチング素子など、対象となる利用分野で使用される分離可能な接点に適用されます。 この規格では、次の 2 つの定格電圧領域が考慮されています。 a) 10 V 以上 (およびそれを含む) (通常 24 V)
IEC 60947-5-4:2002 発売履歴
- 2019 IEC 60947-5-4:2002/AMD1:2019 修正 1. 低圧開閉装置および制御装置 第 5-4 部：制御回路装置および開閉素子 低電力接点の性能評価方法 特殊試験
- 2002 IEC 60947-5-4:2002 低圧開閉装置および制御装置 第 5-4 部：制御回路装置およびスイッチング素子 低エネルギー接点の性能評価方法 特殊試験
- 1970 IEC 60947-5-4/COR1:2000 正誤表 1 - 低圧開閉装置および制御装置 - 第 5-4 部: 制御回路装置および開閉素子 - 低エネルギー接点の性能評価方法 - 特殊試験
- 1996 IEC 60947-5-4:1996 Appareilge A Basse Tension - パート 5: Appareils Et Elements De Commutation Pour Circuits De Commande - セクション 4: Methode D?Evaluation Des Performances Des Contacts A Basse Energie - Essais Speciaux (Edition 1.0; Corrigendum 1:2000)
