BS IEC 60748-23-2:2002
半導体デバイス、集積回路、ハイブリッド集積回路および薄膜構造、生産ライン認証、内部外観検査および特殊試験

規格番号

BS IEC 60748-23-2:2002

制定年

2002

出版団体

British Standards Institution (BSI)

最新版

BS IEC 60748-23-2:2002

交換する

94/216399 DC:1994

範囲

BS IEC 60748-23-1:2002、BS IEC 60748-23-3:2002、BS IEC 60748-23-4:2002 と併せて読んでください。

BS IEC 60748-23-2:2002 発売履歴

• 2002 BS IEC 60748-23-2:2002 半導体デバイス、集積回路、ハイブリッド集積回路および薄膜構造、生産ライン認証、内部外観検査および特殊試験