IEC 62526:2007
半導体設計環境向けの標準テストインターフェイス言語 (STIL) 拡張標準

規格番号

IEC 62526:2007

制定年

2007

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

最新版

IEC 62526:2007

交換する

IEC 93/248/FDIS:2007

範囲

構造は STIL で定義され、半導体シミュレーションの刺激としての使用をサポートします。 これには、(1) 信号名の同等の設計リファレンスへのマッピング、(2) スキャンおよびビルトイン セルフ テスト (BIST) とロジック シミュレーション間のインターフェイス、(3) データ型が含まれます。 パターン内の未解決の状態を表現すること、(4) 異なるデザイン ブロックでの並列または非同期のパターン実行、(5) パターン構成の式ベースの条件付き実行。 構造は STIL で定義され、デザイン 4 のサブブロック (つまり、組み込みコア) のテスト パターンの定義をサポートし、これらのテストを完全な高レベルのデバイス テストに組み込むことができます。 構造は STIL で定義され、デバイス テスト環境からの故障情報を元の刺激および設計データ要素に関連付けます。

IEC 62526:2007 発売履歴

• 2007 IEC 62526:2007 半導体設計環境向けの標準テストインターフェイス言語 (STIL) 拡張標準