BS EN 62226-3-1:2007
低周波および中周波の電場または磁場への曝露 人体の電流密度および誘導内部電場の計算方法 磁場への曝露 解析および二次元数値モデル

規格番号

BS EN 62226-3-1:2007

制定年

2007

出版団体

British Standards Institution (BSI)

状態

入れ替わる 2007-10

に置き換えられる

BS EN 62226-3-1:2007+A1:2017

最新版

BS EN 62226-3-1:2007+A1:2017

交換する

05/30140103 DC-2005

範囲

IEC 62226 のこの部分は、電界にさらされたときの人体における電圧または電流の誘導に基づいて暴露制限が定められる周波数範囲に適用されます。 この部分では、結合係数 K を詳細に定義します。 結合係数 K は、不均一な磁場や摂動電場などの複雑な曝露状況の曝露評価を可能にするために IEC 62226 シリーズによって導入され、人体の単純なモデルの場合に曝露されます。 均一な電場。 結合係数 K は、電界曝露に関連するか磁界曝露に関連するかに応じて、異なる物理的解釈を持ちます。 いわゆる「電界の形状係数」です。 IEC 62226 のこの部分は、少なくとも 100 kHz までの周波数において電界が均一であるとみなせる場合に使用できます。 「均一な」電界にさらされるこの状況は、主に高電圧架空電力システムの近くで見られます。 このため、この部分では電源周波数 (50 Hz と 60 Hz) について説明しています。

BS EN 62226-3-1:2007 発売履歴

• 2007 BS EN 62226-3-1:2007+A1:2017 低および中周波数範囲の電場または磁場への曝露 誘導電流密度および人体の内部電場の計算方法 電場解析および 2 次元数値への曝露...
• 2007 BS EN 62226-3-1:2007 低周波および中周波の電場または磁場への曝露 人体の電流密度および誘導内部電場の計算方法 磁場への曝露 解析および二次元数値モデル