JEDEC JEP148-2004
故障リスクの物理的および選択的評価に基づく半導体デバイスの適格性評価

規格番号

JEDEC JEP148-2004

制定年

2004

出版団体

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

状態

撤回

最新版

JEDEC JEP148-2004

範囲

半導体製品がますます多様化するアプリケーションセグメントに浸透し、コストと市場投入までの時間という経済的要因により、効率的な認定コンセプトが必要となります。 この要件は、開発/革新プロセスおよび認定方法と併せて認定プロセスの組織化に影響を与えます。 市場投入までの時間の目標を達成するには、事前の品質計画、「増分認定」、開発中の確認などの積極的な実践を実践する必要があります。 さらなる利用可能な知識の使用を含むこれらの活動の結果は、製品が市場に向けて準備ができていることの証拠として認定の基礎となります。

JEDEC JEP148-2004 発売履歴

• 2004 JEDEC JEP148-2004 故障リスクの物理的および選択的評価に基づく半導体デバイスの適格性評価