JEDEC JEP140-2002
半導体ビーズ温度試験

規格番号

JEDEC JEP140-2002

制定年

2002

出版団体

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

最新版

JEDEC JEP140-2002

範囲

この方法は、テストまたは処理による温度勾配にさらされたコンポーネントまたはそのはんだ接合部の温度を経時的に測定する手順を指定します。 序文で述べた用途における半導体パッケージの温度測定に適した温度測定センサー、ツール、取り付け方法を定義しています。

JEDEC JEP140-2002 発売履歴

• 2002 JEDEC JEP140-2002 半導体ビーズ温度試験