JEDEC JEB5-A-1970
半導体ロジックゲート微細回路の測定方法
- 規格番号
- JEDEC JEB5-A-1970
- 制定年
- 1970
- 出版団体
- (U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
- 最新版
- JEDEC JEB5-A-1970
- 範囲
- デジタル情報を表すためにバイナリ状態を使用する半導体ロジック ゲート マイクロ回路の回路構成では、入力と出力の間に論理関係が存在します。 論理状態は、入出力で測定された電気パラメータによって識別され、バイナリ状態を説明できます。 状態を説明しますが、最も一般的には電圧が使用されます。 電圧または電流が使用される可能性があります
JEDEC JEB5-A-1970 発売履歴
- 1970 JEDEC JEB5-A-1970 半導体ロジックゲート微細回路の測定方法
